Метод микроскопии для исследования прозрачных объектов

< Предыдущая
Фото - 76
Следующая >
Метод микроскопии для исследования прозрачных объектов. Сканирующий электронный микроскоп Сэм. Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7500f. Сканирующий электронный микроскоп, emcrafts, veritas-3100. Сканирующий электронный микроскоп Зворыкина.


Все фотографии